Misura del tempo di ritardo

Materie:	Altro
Categoria:	Elettronica
Voto:	1 (2)
Download:	111
Data:	03.10.2005
Numero di pagine:	2
Formato di file:	.doc (Microsoft Word)

IVa A Elettronica e Telecomunicazioni
AS. 2004/2005
Misura del tempo di ritardo
di una porta logica NOT
Scopo: Misurare il tempo di ritardo di una porta logica NOT con l’utilizzo dell’oscilloscopio.
Obbiettivi didattici: Imparare che le porte logiche hanno un certo ritardo tra l’ingresso e l’uscita, imparare ad utilizzare l’oscilloscopio apprendere l’uso dell’integrato.
Schema circuitale:
Elenco componenti: Integrato 74LS04 x 2
Sonda oscilloscopio x 1
Fili per breadboard

Elenco materiali me strumenti: Alimentatore stabilizzato (+5V)
Oscilloscopio

Informazioni sui componenti: Schema dell’integrato 74LS04

Procedimento seguito: Abbiamo collegato le 8 porte NOT in serie come indicato nello schema circuitale, in questa esperienza utilizziamo il metodo a catena chiusa, questo implica il fatto che le porte da utilizzare devono essere in numero dispari. L’uscita n 10 del secondo integrato va collegata, in serie alla porta del primo integrato, e all’oscilloscopio con il quale potremo osservare l’andamento della tensione nelle porte logiche. Per riuscire a visualizzare l’onda , abbiamo dovuto selezionare il tasto x10 sull’oscilloscopio, per aumentare la scala dei tempi che altrimenti non ci avrebbe permesso di visualizzare di visualizzarla.
Esaminando l’onda visualizzata sullo schermo dell’oscilloscopio e effettuando vari calcoli descritti nel punto successivo abbiamo determinato il tempo di ritardo (tpd) delle porte NOT da noi utilizzate e la sua frequenza.
Conclusioni: Con questa esperienza ho aprreso il funzionamento di una porta logica, mi sono reso conto dell’effettivo tempo di ritardo tra ingreso e uscita, che seppur piccolissimo si presenta, e ho imparato ad utilizzare l’oscilloscopio per effettuare misurazioni dio periodo (T) e di frequenza e visualizzare il nostro segnale.
Raccolta dati ed elaborazione: